POLYTEC| Interferometria a luce bianca


- Topografia superficiale 3D
- Profilometria Superficiale 3D
- Area di misura : fino a 30 x 40 mm
- Risoluzione verticale : fino ad 1 nm


MEL sensori
OPTOSURF
MEL Laser Scanner
POLYTEC — LDV
POLYTEC — Morfologia 3D in linea
NANOFOCUS
POLYTEC — LDV
POLYTEC — Topcam
MEL Laser Scanner
POLYTEC — Interferometria a luce bianca
TSI — LDV e PDPA
TSI — PIV e V3V
SIGNAL PROCESSING — DOP
NORTEK — Vectrino
RBI — misure di grado di vuoto