NANOFOCUS|
— Microscopia Confocale —



- Rugosità
- Morfologia superficiale
- Planarit
- Attrito
— Profilometria Laser 3D —

MEL sensori
OPTOSURF
MEL Laser Scanner
POLYTEC — LDV
POLYTEC — Morfologia 3D in linea
NANOFOCUS
POLYTEC — LDV
POLYTEC — Topcam
MEL Laser Scanner
POLYTEC — Interferometria a luce bianca
TSI — LDV e PDPA
TSI — PIV e V3V
SIGNAL PROCESSING — DOP
NORTEK — Vectrino
RBI — misure di grado di vuoto