OPTOSURF|
Misure della lavorazione superficiale “senza contatto“




- Rugosità (Ra, Rz, ecc)
- Ondularità
- Rotondità

MEL sensori
OPTOSURF
MEL Laser Scanner
POLYTEC — LDV
POLYTEC — Morfologia 3D in linea
NANOFOCUS
POLYTEC — LDV
POLYTEC — Topcam
MEL Laser Scanner
POLYTEC — Interferometria a luce bianca
TSI — LDV e PDPA
TSI — PIV e V3V
SIGNAL PROCESSING — DOP
NORTEK — Vectrino
RBI — misure di grado di vuoto